CBED crystal polarity analysis of compound semiconductor nanostructures

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikelForskning

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftMicroscopy and Microanalysis
Vol/bind13
Udgave nummerSuppl. 3
Sider (fra-til)120-121
Antal sider2
ISSN1431-9276
StatusUdgivet - 2007
BegivenhedMC 2007 :  Conference of the DGE,  Deutschen Gesellschaft für elektronmikroskopie e.V. - Saarbrücken, Tyskland
Varighed: 2 sep. 20077 sep. 2007
Konferencens nummer: 33

Konference

KonferenceMC 2007 :  Conference of the DGE,  Deutschen Gesellschaft für elektronmikroskopie e.V.
Nummer33
LandTyskland
BySaarbrücken
Periode02/09/200707/09/2007

ID: 2211515