Decay Lengths for Diffusive Transport Activated by Andreev Reflections in Al/n-GaAs/Al Superconductor-Semiconductor-Superconductor Junctions
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning
Originalsprog | Engelsk |
---|---|
Tidsskrift | Physical Review Letters |
Udgave nummer | 78 |
Sider (fra-til) | 931 |
ISSN | 0031-9007 |
Status | Udgivet - 1997 |
Bibliografisk note
OEL
ID: 201432