Fast Strain Mapping of Nanowire Light-Emitting Diodes Using Nanofocused X-ray Beams.
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
Originalsprog | Engelsk |
---|---|
Tidsskrift | A C S Nano |
Vol/bind | 9 |
Udgave nummer | 7 |
Sider (fra-til) | 6978-6984 |
Antal sider | 6 |
ISSN | 1936-0851 |
DOI | |
Status | Udgivet - 23 jun. 2015 |
ID: 142948860