Fast Strain Mapping of Nanowire Light-Emitting Diodes Using Nanofocused X-ray Beams.
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Tidsskrift | A C S Nano |
| Vol/bind | 9 |
| Udgave nummer | 7 |
| Sider (fra-til) | 6978-6984 |
| Antal sider | 6 |
| ISSN | 1936-0851 |
| DOI | |
| Status | Udgivet - 23 jun. 2015 |
ID: 142948860