TEM and RBS/channelling of nanosized bicrystalline (Pb,Cd) inclusions in Al made by sequential ion implantation

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftNucl. Instrum. Meth.B.
Udgave nummerB127/128
Sider (fra-til)727-733
StatusUdgivet - 1997

Bibliografisk note

OEL

ID: 201906