A technique for positioning nano-particles using an atomic force microscope

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskning

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftNanotechnology
Udgave nummer9
Sider (fra-til)337
ISSN0957-4484
StatusUdgivet - 1998

Bibliografisk note

OEL

ID: 200827