Measuring the charge and spin states of electrons on individual dopant atoms in silicon

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningfagfællebedømt

  • Søren Erfurt Sass Andresen
  • Dane R. McCamey
OriginalsprogEngelsk
BogserieTopics in Applied Physics
Vol/bind115
Sider (fra-til)169-182
Antal sider13
ISSN0303-4216
StatusUdgivet - 2009

ID: 18478364